可靠性驗證
HALT試驗（Highly accelerated life test）
描述：
HALT（高加速壽命測試）：Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計缺陷的工序，它通過設(shè)置逐級遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設(shè)計、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，較大的特點是設(shè)置樣品設(shè)計運行限的環(huán)境應(yīng)力，從而從暴露故障的時間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時間。
目的：
在HALT試驗中可找到被測物在溫度及振動應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限；為開發(fā)人員改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計方案提供依據(jù)，以對產(chǎn)品設(shè)計缺陷進(jìn)行及時的修正；并為HASS的應(yīng)力類型和應(yīng)力量級的選擇提供依據(jù)。
作用：
快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計、制程上的薄弱點；幫助提高產(chǎn)品設(shè)計的欲度；有效地提高產(chǎn)品的可靠性；節(jié)省設(shè)計時間和費用；幫助排除產(chǎn)品設(shè)計的問題；幫助評估產(chǎn)品設(shè)計的變更。
原理：
測試沒有通過與不通過的評定標(biāo)準(zhǔn)；所有的樣品需要測試到失效為止；測試中，樣品需要被實時監(jiān)測；測試中發(fā)現(xiàn)的任何問題都需要進(jìn)行分析，找出失效原因；該測試結(jié)果不能用來量化產(chǎn)品的可靠性。
應(yīng)用范圍：
電子、元器件、電路板等電工電子產(chǎn)品零部件。
試驗項目：
