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IC真?zhèn)螜z測(cè)
功能檢測(cè)（Functional Testing）
描述：功能檢測(cè)，是指在特定工作條件（即器件正常使用環(huán)境，通常為常溫），器件正常工作的狀態(tài)下，進(jìn)行各種必要的邏輯或信號(hào)狀態(tài)測(cè)試。此測(cè)試依據(jù)原廠規(guī)格書以及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范，設(shè)計(jì)可行性測(cè)試向量或?qū)Ｓ脺y(cè)試電路，對(duì)檢測(cè)樣片施加相應(yīng)的信號(hào)源輸入，通過(guò)外圍電路的調(diào)節(jié)控制、信號(hào)放大或轉(zhuǎn)換匹配等特定條件，分析信號(hào)的邏輯關(guān)系及輸出波形的變化狀態(tài)，檢測(cè)器件的功能特性。
我們的優(yōu)勢(shì)：
創(chuàng)芯檢測(cè)擁有百多項(xiàng)專利及軟件著作權(quán)，上千種測(cè)試開(kāi)發(fā)案，專業(yè)的開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)，能根據(jù)客戶需要快速定制開(kāi)發(fā)方案。
功能檢測(cè)圖片:
功能檢測(cè)設(shè)備圖片:
