AEC-Q100測試項目

AEC-Q100認(rèn)證是什么

AEC 是”Automotive Electronics Council：汽車電子協(xié)會”的簡稱。

AEC-Q100是AEC的第一個標(biāo)準(zhǔn)，于1994年6月首次發(fā)表，經(jīng)過了十多年的發(fā)展，AEC-Q100已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標(biāo)準(zhǔn)。對于汽車電子元器件來說AEC-Q100是最常見的應(yīng)力測試(Stress Test)認(rèn)證規(guī)范。

AEC-Q100主要是針對車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計出的一套應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個芯片進行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對產(chǎn)品功能與性能進行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測試。

AEC-Q100認(rèn)證對象

集成電路（ICs）

零件工作溫度等級的定義

AEC-Q100有四個溫度等級：0，1，2，3。其中0為最高級別，若能達到0級要求則代表產(chǎn)品可以用于汽車各個部件。

0等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-150°C

1等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-125°C

2等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-105°C

3等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-85°C

AEC-Q100測試標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q100 Rev-H 基于集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機理

AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測試；

AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試；

AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試；

AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測試；

AEC-Q100-005 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試；

AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測試；

AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級；

AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）；

AEC-Q100-009 電分配的評估；

AEC-Q100-010 錫球剪切測試；

AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試；

AEC-Q100-012 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述。

AEC-Q100測試項目

A組：加速環(huán)境應(yīng)力測試（6項）

B組：加速壽命模擬測試（3項）

C組：封裝組裝完整性測試（6項）

D組：晶圓制造可靠度測試（5項）

E組：電氣特性確認(rèn)測試（11項）

F組：瑕疵篩選監(jiān)控測試（2項）

G組：空封器件完整性測試（8項）

AEC-Q100驗證樣品數(shù)量

對于每個測試序列中的詳細測試項目，也在AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)中有詳細的描述，并且每種測試的測試時間也根據(jù)Grade等級給出了不同的要求。在AEC-Q100的測試中，對于序列A中，測試的樣品數(shù)很多都是77個，并且要求0 Fails，這就極大得增加了芯片測試的置信度。

AEC-Q100認(rèn)證作用

主要用于預(yù)防產(chǎn)品可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，引導(dǎo)零部件供貨商在開發(fā)的過程中就能采用符合該規(guī)范的芯片。AEC-Q100對每一片芯片進行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，確認(rèn)制造商所提出的產(chǎn)品規(guī)格表、使用目的、功能說明等是否符合最初需求的功能，以及在連續(xù)使用后功能與性能是否始終如一。

AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是提高產(chǎn)品的良品率，這對芯片供貨商來說，不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰(zhàn)。不管是投標(biāo)還是占領(lǐng)市場，要想盡早進入汽車領(lǐng)域并且立足，AEC-Q100系列認(rèn)證都將會是車規(guī)芯片認(rèn)證的首選。