集成電路 TUSB4020BIPHPR 失效分析報告
日期：2024-11-04 16:36:45 瀏覽量：728 作者：創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析，推測因ESD/EOS導致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。
日期：2024-11-04 16:36:45 瀏覽量：728 作者：創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析，推測因ESD/EOS導致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。
全國熱線
4008-655-800
CXOLab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號英達豐工業(yè)園A棟2樓
深圳市福田區(qū)華強北街道振華路深紡大廈C座3樓N307
粵ICP備2023133780號 創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2024
友情鏈接：
創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2024
